迈克尔逊干涉仪，是1883年美国物理学家迈克尔逊和莫雷合作，为研究“以太”漂移而设计制造出来的精密光学仪器。它是利用分振幅法产生双光束以实现干涉。通过调整该干涉仪，可以产生等厚干涉条纹，也可以产生等倾干涉条纹。

主要用于长度和折射率的测量，若观察到干涉条纹移动一条，便是M2的动臂移动量为λ/2，等效于M1与M2之间的空气膜厚度改变λ/2。在近代物理和近代计量技术中，如在光谱线精细结构的研究和用光波标定标准米尺等实验中都有着重要的应用。利用该仪器的原理，研制出多种专用干涉仪。

技术参数：1、测量透明薄膜厚度范围0-300nm，折射率1.30-2.49 2、起偏器、检偏器、1/4波片刻度范围0°-360°，游标读数0.1°3、测量精度：±2nm.4、入射角ψ=70°，K9玻璃折射率n=1.515.5、消光系数：0，空气折射率1，配有光电探头，检流计.(本型号不含分光计主计)。